Точечные дефекты в оксидах и эмиссионные свойства / Капустин В.И., Сигов А.С., Ли И.П.

Описание и характеристики Точечные дефекты в оксидах и эмиссионные свойства / Капустин В.И., Сигов А.С., Ли И.П.

В монографии рассмотрены вопросы влияния точечных дефектов в оксидах, являющихся основным эмиссионным компонентом катодов электровакуумных СВЧ-приборов, на их эмиссионные свойства. Изложена теория электронной эмиссии оксидов, аналитические методы исследования катодов, методы исследования их эмиссионных свойств. Детально рассмотрены вопросы теории и физикохимии оксидно-никелевых, металлопористых, металлосплавных и оксидно-иттриевых катодов, в том числе катодов для магнетронов с холодным запуском. Предназначена для научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области электронного материаловедения и электронных приборов. Может также служить учебником, полезным преподавателям, аспирантам, магистрантам, студентам-старшекурсникам соответствующих физико-технических и естественно-научных специальностей.

Для приобретения Точечные дефекты в оксидах и эмиссионные свойства / Капустин В.И., Сигов А.С., Ли И.П. от «Инфра-М» арт. 4795423 выберите желаемое количество единиц и кликните на красную кнопку "Купить". Далее товар будет перемещён в корзину. После выбора всех выбранных позиций перейдите в корзину в правом верхнем углу страницы и завершите оформление заказа. При оформлении вам будет предложено выбрать способ доставки Точечные дефекты в оксидах и эмиссионные свойства / Капустин В.И., Сигов А.С., Ли И.П. в Омске и Омской области и оплаты из доступных вариантов.